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椭偏仪SOPRALAB/KLA 在半导体工艺上的应用
2019-01-25
公司提供匈牙利Semilab公司SE-2000型、SE-1000光谱型椭偏仪（原法国Sopra公司GES5-E）。WT-2000型、WT-1200A、WT-1200B型、WT-1000型少子寿命测试仪、DLS-83D深能级瞬态谱仪。SE-2000光谱椭偏仪（原法国Sopra公司）是的椭偏仪设备供应商，其高精度椭偏仪在半导体、化合物半导体（GaAs/SiC）、LCD和MEMS领域有着非常广泛的应用。目前有超过500台的Sopra椭偏仪应用在各个行业。主要特点：高精度的薄膜测量（...
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台阶轮廓测试仪kia-tencor在半导体的应用
2019-01-25
仪器简介：应用：◆薄膜厚度测量；◆样品表面形貌测量；◆薄膜应力测量；◆样品表面粗糙度/波纹度测量；◆样品表面三维形貌测量等。技术参数：KLA-Tenco探针式台阶仪，可测量纳米级至2毫米台阶高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应力，集高测量精度、多功能性和经济性于一体，是生产线及材料分析等应用领域的理想选择。因其具有6.0A(1σ)或0.1%台阶高度重复性以及分辨率,主要特点：◆Alpha-StepIQ采用天然金刚石作为探头，经久耐用。探针更换简便、快速，软件具有保护测针以...
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光学膜厚仪Filmetrics F20UVX在半导体制造的应用
2019-01-25
FilmetricsF20薄膜测厚仪经济有效的Filmetrics薄膜厚度测量系统,测量薄膜厚度仅需几秒钟。Filmetrics系列膜厚测试仪拥有单点测量、显微镜斑点测量、自动测绘系统、在线监测等功能型号的膜厚测试仪产品。Filmetrics膜厚测试仪产品轻点鼠标就能测量1纳米到13毫米的单层薄膜或多层薄膜堆厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成个薄膜厚度测量！产品介绍：1有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)；2大样...
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龙门三坐标的简介
2019-01-24
为了满足不同行业的不同需求，三坐标测量机也分好多种，其中有一种叫龙门式三坐标测量机的测量设备，主要为有大型工件测量需求的客户提供测量解决方案。下面我们推荐一种叫Atlas的大型龙门式三坐标测量机，以下是一些技术参数，希望对您的使用购买有所帮助。Atlas系列三坐标测量机是为大型及超大型工件设计的坐标测量机系列，采用龙门式结构，Y轴超长行程时采用花岗岩气浮导轨对接技术，使Y轴测量范围可达30M。该系列产品主要应用于汽车、航天航空、船舶、高铁、重型运输以及模具行业。Atlas龙门...
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显微镜的详细介绍
2019-01-24
利用光学透镜组把样品的像放大，从而看出它的微细结构的仪器。主要由一短焦距的透镜组作为物镜和一焦距较长的透镜组作为目镜组成，分别固定在金属管两端，目镜和物镜间的距离可以调节。分光学显微镜和电子显微镜，放大率约为几百到80万倍左右。广泛用于生物学、医学、农业以及矿冶、机械等工业中。显微镜是由一个透镜或几个透镜的组合构成的一种光学仪器，是人类进入原子时代的标志。主要用于放大微小物体成为人的肉眼所能看到的仪器。显微镜分光学显微镜和电子显微镜：光学显微镜是在1590年由荷兰的詹森父子所...
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动态润湿角测定仪
2019-01-23
该仪器主要用于测量液体对固体的动态接触角（前进角、后退角、滚动角）、静态接触角、水滴角、亲水角、润湿角、浸润角；分析固体表面的润湿行为；通过分析液滴外形的悬滴法测量表面/界面张力；计算表面自由能（固体表面张力）。适用于石油、化工、电力、印刷、学校等科学研究领域。技术参数1、光学系统：（1）成像：连续变倍显微镜镜头；USB2.0三百万高像素数字相机，可清晰分析动态液滴，并适用于笔记型计算机操作，不须加装影像卡（2）光源：可调亮度单色冷光LED背光光源，图像中液滴边缘分辨更清晰；...
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大平台亲水角测定仪
2019-01-23
该仪器主要用于测量液体对固体的接触角、水滴角、亲水角、润湿角，分析固体表面的润湿行为。广泛适用于石油、化工、医药、电力、印刷、学校等科学研究领域。主要用于测量液体对固体的静态接触角。分析固体表面的润湿行为，计算表面自由能（固体表面张力）。设计构造建立在模块化的概念上，制造上选用精美的工业铝型材为主体，它为您的应用和选择提供了很大的灵活性。主要技术参数：1光学系统：（1）成像：高像素数字相机和连续变焦显微镜镜头；接口；USB2.0、像素三百万（2）光源：亮度连续可调单色冷光LE...
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水滴角测量仪注意的事项
2019-01-22
前面对接触角测定仪常识进行了介绍，实施时应注意以下两个问题：平衡时间和体系温度的恒定，当体系未达平衡时，接触角会变化，这时的接触角称为动态接触角，动态接触角研究对于一些粘度较大的液体在固体平面上的流动或铺展有重要意义(因粘度大，平衡时间长)。同时，对于温度变化较大的体系，由于表面张力的变化，接触角也会变化，因此，若一已基平达平衡的体系，接触角的变化，可能与温度变化有关，简单判断影响因素的方法是，平衡时间的影响一般是单方向的，而温度的波动可能造成γ的升高或降低。除平衡时间和温度...
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