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光学数码显微镜DSX510
2019-01-30
舒适的操作性能，传统显微镜*。DSX系列并非操作显微镜本身，而是通过直观、易懂的GUI画面菜单进行操作。可根据用户熟练程度选择操作模式，并通过触摸屏、鼠标、操纵杆等的全新操作方式，实现了舒适的操作性能。无论是具备显微镜方面的知识和技能的操作人员，还是对显微镜不熟悉的操作人员，都能直观的完成操作。用于不同熟练度和用途的3个操作模式在DSX系列上，根据用户的熟练程度，优化设计了2个GUI的操作模式："标准模式"和"初级模式"。同时，还配置了可以自定义标准模式，专门用于常规工作的"...
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激光共聚焦显微镜OLS4100
2019-01-30
的测量更大的样品范围轻松检测85°尖锐角有尖锐角的样品（剃刀）采用了有着高N.A.的物镜和光学系统（能大限度发挥405nm激光性能），LEXTOLS4100可以地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。这有利于粗糙度的测量。LEXT物镜使用物镜时的小象差高度分辨率10nm，轻松测量微小轮廓(MPLAPON50XLEXT)高度差标准类型B,PTB-5,InstitutfürMikroelektronik,Germany,6nm高度测量中的检测由于采用405nm的短波长激光和更高数...
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OLYMPUS DP74摄像头高清工业相机
2019-01-30
开发的位置导航功能可创建背景地图，帮助您定位高倍采集图像在标本内的位置，像GPS定位一样，增加您的工作便利性。结合软件新开发的即时手动拼图功能，轻松实现手动载物台下实时、快速、连续拼接大图。DP74所采用的型3-CMOS模式使每个像素的信息与三芯片相机一样，该模式在不提高图像大小的条件下，获得了细节更多、色彩还原优异的高分辨图像。DP74是一款有2070万像素、显微镜的数码显微照相装置。拥有优异的色彩和明晰的细节，每秒可拍摄60帧画面,拥有异常的灵活性，可以用于各种不同的应用...
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水滴角测试仪原理
2019-01-26
目前市场上有很多自称是“水滴角测量仪”的分析仪器，通常这些仪器是将卧式显微镜或平整度分析仪增加一个进液装置后，再采用简单的量角度软件（如圆拟合分析工具、椭圆拟合分析工具）进行测量。通过如上描述，用户就会明显看出，这样的仪器只能是基于显微镜的一个量测二维条件下的水滴轮廓的角度的工具而已。如上1所述，水滴角值是表征固体材料物理化学性质值，这个值属于物理化学领域。且由于如下固体材料客观存在的原因：（1）表面粗糙度：导致各视角条件下角度可能有不同；（2）化学多样性：比如生锈的铁锈位置...
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选购水滴角的注意事项
2019-01-26
水滴角或水接触角的测试主要注意点包括：（1）水的纯度或清洁度一定要有保证。通常而言，建议测试水滴接触角值时采用二次蒸馏水更好。（2）尽量保证室温的稳定性。*，水的表面张力值受温度影响而有变化。但对于超疏水或超亲水表面时，接触角值事实影响并非很大，约在2度之内。（3）测试水滴角前，一定要作进液系统及水的清洁度的判断。方法为，测试之前，采用基于ADSA－RealDrop算法的Young-Laplace方程拟合法对水的表面张力值进行测试。ADSA-RealDrop法由于不受针头直径...
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北京品智创思台阶仪特点
2019-01-26
台阶仪属于接触式表面形貌测量仪器。根据使用传感器的不同，接触式台阶测量可以分为电感式、压电式和光电式3种。其测量原理是：当触针沿被测表面轻轻滑过时，由于表面有微小的峰谷使触针在滑行的同时，还沿峰谷作上下运动。触针的运动情况就反映了表面轮廓的情况。传感器输出的电信号经测量电桥后，输出与触针偏离平衡位置的位移成正比的调幅信号。经放大与相敏整流后，可将位移信号从调幅信号中解调出来，得到放大了的与触针位移成正比的缓慢变化信号。再经噪音滤波器、波度滤波器进一步滤去调制频率与外界干扰信号...
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电池充电放电测试系统
2019-01-26
设备型号PZ-M50A/400V输出通道1通道1柜，共1柜接口与讯通过485与PC机通讯，可通过U口或串口连接，一台PC机可控制200工作模式恒压充电、恒流充电、恒流定终止电压检时放电、恒流定时检压放电、恒功率放电、恒电阻放电、静置、暂停、循环运行方式，设置多阶段程序时运行方式可以自由组合阶段切换条件时间、电压、安时实时显示电流、电压、时间、阶段、模式、Ah、Wh、单体电压操作模式1.阶段数目、电流、电压等参数可以在额定范围内自行设置；2.程序设置终止条件时，不必逐项都填写，...
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晶圆表面张力接触角表面能分析检测测量系统
2019-01-26
晶圆表面分析检测测量系统、晶圆表面张力分析系统晶圆表面分析检测测量系统、晶圆表面张力分析系统详情：晶圆表面分析检测测量系统、晶圆表面张力分析系统适用于半导体晶圆（Wafer）工艺的质量控制。该视频成像(VCA-Wafer)晶圆表面分析检测测量系统、晶圆表面张力分析系统提供晶圆（Wafers）表面的快速并准确的接触角/表面能分析，从而评估粘性，洁净度及镀膜。晶圆表面分析检测测量系统、晶圆表面张力分析系统采用轻量化的设计、组装方便的基于Windows™标准的用户友好型...
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